Spektrofotometr sferyczny TS7700
Zaawansowany spektrofotometr sferyczny d/8° z jednoczesnym pomiarem SCI/SCE, monochromatorem siatkowym 1000 linii i powtarzalnością ΔE*ab 0,02 — także dla próbek fluorescencyjnych.
- Podwójna ścieżka optyczna — jednoczesny pomiar SCI i SCE, także dla próbek fluorescencyjnych
- Monochromator z siatką dyfrakcyjną 1000 linii i podwójną 40-elementową fotodiodą krzemową
- Powtarzalność ΔE*ab 0,02 i zgodność międzyinstrumentalna ΔE*ab ≤ 0,15
- Wymienna apertura Φ8/10 mm (MAV) i Φ4/5 mm (SAV), pomiar połysku pod kątem 8°
TS7700 to zaawansowany, przenośny spektrofotometr sferyczny o geometrii d/8° (di:8°/de:8°) i pionowej konstrukcji. Zastosowany system podwójnej ścieżki optycznej umożliwia jednoczesny pomiar w trybach SCI i SCE — również dla próbek fluorescencyjnych, co jest rzadkością w tej klasie urządzeń. Monochromator z siatką dyfrakcyjną 1000 linii i podwójna, 40-elementowa fotodioda krzemowa zapewniają wysoką rozdzielczość widmową i powtarzalność pomiaru na poziomie ΔE*ab 0,02.
Urządzenie dodatkowo umożliwia określenie stopnia połysku pod kątem 8°, a wbudowana kamera z podglądem i wskaźnikiem krzyżowym ułatwia precyzyjne ustawienie punktu pomiarowego. Złącza USB i Bluetooth 4.2 oraz dołączone oprogramowanie PC pozwalają archiwizować, eksportować i drukować wyniki.
Kluczowe parametry
| Parametr | Wartość |
|---|---|
| Geometria pomiaru | d/8° (di:8°/de:8°), SCI i SCE jednocześnie, zgodność z CIE No. 15, GB/T 3978, ISO 7724-1, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7 |
| Kula rozpraszająca | Φ40 mm |
| Apertura pomiarowa | wymienna: MAV Φ8/10 mm, SAV Φ4/5 mm |
| Zakres długości fali | 400–700 nm, rozdzielczość 10 nm |
| Monochromator / sensor | siatka dyfrakcyjna 1000 linii / podwójna fotodioda krzemowa (40-elementowa) |
| Źródło światła | łączone diody LED, lampa UV |
| Obserwator | CIE 2° i 10° |
| Iluminanty | D65, A, C, D50, D55, D75, F1–F12 |
| Przestrzenie barw | CIE L*a*b*, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, sRGB, Hunter Lab, DIN Lab99, Munsell (C/2) |
| Wzory różnicy barw | ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*00, DIN ΔE99, ΔE(Hunter) |
| Powtarzalność | ΔE*ab 0,02 (biała płytka, 30 pomiarów) |
| Zgodność międzyinstrumentalna | ΔE*ab ≤ 0,15 (12 płytek BCRA serii II) |
| Pamięć | 1 000 wzorców / 30 000 pomiarów |
| Interfejs / zasilanie | USB, Bluetooth 4.2 / bateria Li-ion (do 6 000 pomiarów na 8 h) |
| Wymiary / waga | 129 × 76 × 217 mm / 600 g |
Zastosowania
TS7700 sprawdza się w kontroli jakości przy produkcji tworzyw sztucznych, farb, tekstyliów, w poligrafii, elementach samochodowych oraz w przemyśle kosmetycznym i spożywczym. Zdolność pomiaru próbek fluorescencyjnych i dodatkowa funkcja pomiaru połysku 8° czynią go szczególnie przydatnym tam, gdzie standardowy spektrofotometr sferyczny nie wystarcza.
Pełną specyfikację techniczną znajdziesz w karcie katalogowej PDF. Potrzebujesz doboru przyrządu do konkretnego zastosowania? Zapytaj o ofertę — pomożemy dobrać konfigurację i akcesoria.